计算机测控系统概论

2010年04月21日 17:18:47人气：1187来源：西安誉通光电测控有限责任公司

写给我的兄弟姐妹们四

――――――计算机测控系统概论

既然决定把这写成连载的“长篇小说”，那么就要按部就班的慢慢来，一点点的充实和完善，今天就先讲讲概论一下“计算机测控系统”，让不太明白的人有个比较直观的认识。

zui早用在工业控制上的是“基地式仪表”，其只具备简单的测量和功能，一般仅在现场或单表使用，不能和外界进行“信息传递”，操作人员只有到现场“巡视”才能知道“状况”

后来为了适应企业等规模扩大的情况出现了“单元组合仪表”，就是把很多仪表安装在“集中控制室”，现场的信号统一送到控制室，一般是直流电流信号0-10mA或4-20mA。

从上世纪70年代开始“DAS”出现了，人们将“计算机技术”引入到测量、模拟、逻辑控制领域，产生了“集中控制”。数据采集系统主要是巡回检测和数据记录与分析处理，但是不直接参与过程控制，对生产过程不直接产生影响。在此基础上又加上“输出控制单元”后出现了“DDC”，直接数字控制系统，这样计算机不仅“监视”，而且可以“参与”现场的控制了。计算机代替了“模拟调节器”，但是对生产过程产生影响的被控参数是给定和预先设定，控制过程中是不改变的。为了解决这个问题出现了“SCC”---监督控制系统，不仅可以给定值来控制，而且可以进行顺序、自适应等控制，出现了SCC+模拟调节器和SCC+DDC的控制系统；

80年代出现了DCS，集中分散控制系统，这是“微处理器和微控制器”出现和广泛使用的结果，他的特点是：分散控制、集中操作、分级管理、分而自治、综合协调。于是出现了“工业对象”+“基本控制单元”+高速数据通道+监督计算机+管理计算机+CRT操作等，大型的系统结构。其实可以认为是“操作站+控制站+现场仪表”三层结构。再发展就出现了FCS，他与DCS的不同是实现了“工作站+现场总线智能仪表”的两层结构，标准统一后就可实现了真正的开放式的系统互连。而PLC的出现是伴随解决现场继电器控制而出现的，zui早用在多继电器系统中，也可以接到DCS中，从功能上说可以看做是DCS下出现的子系统，但是他的出现发展很快，保留了“梯形图”等工程编程语言同时吸收了DCS的特点后来加入了DI/DO/AI/AO等多中模块功能，目前和DCS的界限越来越模糊，目前的区别是通信协议和编译方式上有些不同而已，硬件功能上基本一样了！

关键词：测控系统数据采集数据采集系统过程控制控制系统

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